弊社はこの度、東京ビッグサイトにて開催される「第43回インターネプコン ジャパン」に出展します。
今回の出展は受入寸法検査向けに提供しております、3次元画像計測装置を組込んだ3D計測スキャナ（ターンテーブル式）を展示します。
また、出展するデモ機の動作の様子をYoutubeに公開していますので、こちらでもご覧下さい。
展示ブースでは、お客様のご要望に応じて製品のデモンストレーションを実施致しますので、是非この機会に弊社展示ブースにお立ち寄り頂きます様よろしくお願い申し上げます。

【会期】2014年1月15日（水）～17日（金）　10：00～18：00
【会場】東京ビッグサイト
【ブース番号】東6-28