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3次元計測システムリリースと第24回インターネプコン・ジャパン出展のお知らせ

3次元計測システムリリースと第24回インターネプコン・ジャパン出展のお知らせ

第24回インターネプコン・ジャパン(1月16日〜18日)に、弊社画像検査システム「YJC-3RB」及び、YJC-3RBに搭載した「3次元画像計測システム」を出展します。
特に新製品となる「フルカスタム対応3次元画像計測システム」については、(株)アプライド・ビジョン・システムズと共同開発したカスタマイズ性に優れた位相シフト方式による3次元画像計測手法をご提案します。
是非、この機会にご覧ください。

2013-01-05


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